Изменения

Петросянц Константин Орестович

469 байт убрано, 19:56, 7 марта 2014
Нет описания правки
| дата смерти =
| место смерти =
| краткая информация =Профессор. Заведующий кафедрой факультета электроники и телекоммуникаций Национального исследовательского университета «Высшая школа экономики»| тэг01 =Профессор
| тэг02 =
| тэг03 =
Достижения и поощрения
Почетный работник высшего профессионального образования РФ (сентябрь 2012) Лауреат Премии Правительства Российской Федерации в области науки и техники (март 1999)
Надбавка за академическую работу (2013-2014)
Гордеев Г.Н. «Проектирование блока регистрации сигналов кремниевого детектора ионизирующих излучений.». Факультет электроники и телекоммуникаций, 2013
==Участие в конференциях==  2013 год *10-я Международная специализированная выставка «Силовая электроника», с 26 по 28 ноября 2013, Крокус Экспо, павильон 2, раздел "Молодая силовая электроника России". Форма участия - участие с 2-мя экспонатами:1)База данных по характеристикам и параметрам моделей полупроводниковых элементов силовой электроники.2)Исследование тепловых характеристик преобразователей напряжения с помощью ИК тепловизионной установки Экспонаты выполнены и представлены аспирантами и студентами МИЭМ НИУ ВШЭ под руководством профессоров каф. "Электроника и     *Международная научно-практическая конференция"Инновации на основе информационных и коммуникационных технологий", (ИНФО-2013), Сочи, 1-10 октября 2013. Соавтор доклада "Информационно-измерительный комплекс для определения параметров схемотехнических SPICE моделей электронных компонентов с учетом температуры", авторы: Харитонов И. А., Гоманилова Н. Б., Петросянц К. О., Самодуров Д. А., Александров А. В., Малышев А. А., Чемеза Д. М.    *Европейская конференция 16th Digital Systems Design (DSD 2013) объединенная с 39th Software Engineering and Advanced Applications (SEAA 2013) конференцией, г. Santander, Испания, 4 - 6 сентября 2013 г. Форма участия- соавтор стендового доклад на тему: "Account for radiation effects in signal integrity analysis of PCB digital systems", соавтор - Харитонов И.А. *Техническое совещание «Проблемы математического моделирования РЭА на этапах её разработки», ФГУП «Всероссийский научно-исследовательский институт автоматики им. Н.Л. Духова», 22.08.2013, организованное в соответствии с решением секции «Радиационно-стойкая ЭКБ» Межведомственного совета главных конструкторов по радиоэлектронной компонентной базе по проблеме моделирования радиоэлектронной аппаратуры в условиях воздействия ионизирующего излучения, прошедшем 13 июня 2013 г. в Госкорпорации «Росатом». Форма участия - соавтор доклада на тему «Моделирование электронных компонентов с учётом тепловых и радиационных эффектов». Соавторы: Харитонов И.А., Самбурский Л.М., Кожухов М.В., А.В. Сидоров, В.В.Карушев, С.В. Смирнов.   *II Международная научно-практическая конференция "Инновационные информационные технологии", Чехия, Прага, 22–26 апреля.Форма участия - руководитель секции "Инновационные информационные технологии в науке", докладчик. Темы докладов: "SPICE-МОДЕЛИ КРЕМНИЕВЫХ БТ И КРЕМНИЙ‑ГЕРМАНИЕВЫХ ГБТ, УЧИТЫВАЮЩИЕ ВЛИЯНИЕ РАДИАЦИОННЫХ ФАКТОРОВ", соавтор - Кожухов М. В.; "ПРИМЕНЕНИЕ ПАКЕТОВ ПРОГРАММ TCAD И HSPICE ДЛЯ АНАЛИЗА ПЕРЕХОДНЫХ ПРОЦЕССОВ В ЯЧЕЙКАХ КМОП ИС С УЧЕТОМ ВЛИЯНИЯ ЭФФЕКТА САМОРАЗГРЕВА", соавторы Харитонов И.А., Попов Д. А. *Международная конференция «3rd International Conference on Advanced Measurement and Test» (AMT 2013), г. Сямынь, КНР, март, 13-14, 2013 г. Форма участия - докладчик. тема доклада «Hardware-software subsystem for MOSFETs characteristic measurement and parameter extraction with account for radiation effects».*13-ий научно-практический семинар «Проблемы создания специализированных радиационно-стойких СБИС на основе гетероструктур». 27.02.2013 - 28.02.2013 Российская Федерация, Нижний Новгород . форма участия: докладчик Доклад Кремний-германиевая Би-КМОП технология для создания радиационно-стойких аналого-цифровых СБИС 2012 год*12-й научно-практический семинар «Проблемы создания специализированных радиационно-стойких СБИС на основе гетероструктур».29.02.2012 - 1.03.2012 Российская Федерация, Нижний Новгород. форма участия: докладчикТема доклада "Моделирование характеристик элементной базы 0,35 мкм КМОП СБИС КНИ с учетом радиационных воздействий" *Межотраслевая школа-семинар "Радиационные испытания-2012". 18.06.2012 - 21.06.2012 Российская Федерация, Дубна Московской области. форма участия: докладчик. Тема доклада "Методы математического моделирования элементов ИС и ИС при радиационном воздействии *Научно-техническая конференция «ЭЛЕКТРОНИКА, МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОНИКА-2012». 26.06.2012 - 29.06.2012 Российская Федерация, Суздаль. формы участия: докладчик. Доклады:МОДЕЛИРОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ ПАРАЗИТНОГО БИПОЛЯРНОГО ТРАНЗИСТОРА НА МЕХАНИЗМ ОДИНОЧНЫХ СБОЕВ ЯЧЕЙКИ ПАМЯТИ КНИ КМОП ОЗУ
Макромодель EKV RAD для КНИ/КНС МОП транзисторов, учитывающая радиационные эффекты
 *18th International Workshop on Thermal investigations of ICs and Systems "Therminic 2012". 24.09.2012 - 27.09.2012 Венгрия, Будапешт. форма участия: докладчик. Доклад : Quasi – 3D approach for BGA Package Thermal Modeling. *Конференция «Менеджмент качества и менеджмент информационных систем» (MQ&ISM-2012). 16.09.2012 - 23.09.2012 Австрия, Вена. форма участия: докладчик. Доклад: Программно-аппаратный комплекс для расчета и оценки радиационной и температурной стойкости электронной компонентной базы аэрокосмического назначения *Всероссийская научная школа по проектированию интегральных схем. 11.09.2012 - 13.09.2012 Российская Федерация, Москва. форма участия: докладчик. Доклад: Схемотехнические SPICE-модели элементов аналого-цифровых ИС *Международная конференция IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS’12). 14.09.2012 - 12.09.2012 Украина, Харьков. форма участия: докладчик. Доклады:New version of Automated Electro-Thermal Analysis in Mentor Graphics PCB Design SystemLogi-Thermal Analysis of Digital Circuits Using Mixed-Signal Simulator Questa ADMSSimulation of Total Dose Influence on Analog-Digital SOI/SOS CMOS Circuits with EKV-RAD macromodel *Крупнейший международный научно-технический семинар-выставка по исследованию тепловых процессов в электронных компонентах«IMAPS Advanced Technology Workshop and Tabletop Exhibition on Thermal Management», 12 - 14 ноября 2012 г.,Кремниевая долина,г. Лос-Гатос (Калифорния, США),форма участия: докладчик. Доклад «Experimental Investigation of Temperature-Current Rise in Embedded PCB Traces»("Экспериментальное исследование температурно-токовых характеристик трасс печатных плат со встроенными активнымикомпонентами») был признан одним из лучших и отмечен Оргкомитетом IMAPS–2012 специальной грамотой. *9-я Международная выставка и конференция «Силовая Электроника»,27- 29 ноября, Москва, МВК «Крокус Экспо». В рамках специального проекта "Молодая силовая электроника" аспирантами и студентами кафедры "Электроника и наноэлектроника" МИЭМ НИУ ВШЭбыли представлены два экспоната :1) Аппаратно- программный комплекс для определения параметров моделей полупроводниковых элементов силовой электроники.2) Печатные платы со встроенными активными компонентами.К.О. Петросянц - руководитель выставленных работ.
==Сочинения==
===Статьи и главы в книгах===
==Достижения==
*Ординарный профессор (2013)
 
*Почетный работник высшего профессионального образования РФ (2012)
*Лауреат Премии Правительства Российской Федерации в области науки и техники (1999)
==Изображения==
=Библиография=
*[http://www.hse.ru/org/persons/47633284 Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»]
Бюрократ, editor, nsBadRO, nsBadRW, nsDraftRO, nsDraftRW, reviewer, администратор
153 456
правок